一、小型可程式恒溫恒濕試驗箱：

可程式恒溫恒濕試驗箱是根據半導體材料測試相關標準設計的，同時也是航空、汽車、家電、科研等領域的測試設備，用于模擬電子儀器儀表、新型材料、電工、車輛、金屬、電子產品、航空航天材料等在運輸、儲存、使用等各種高溫、低溫、濕熱交變環境下，檢驗材料、配件或儀器設備耐高溫、耐寒、耐濕熱性能及可能造成的損壞壽命縮減，交變濕熱度或恒定試驗的溫度環境變化后的參數及性能情況測試。

一、試驗溫度

應優先從下列數值中選取：-80，-60，-40，-20，0℃，+5℃。試驗溫度允許偏差范圍均為±2℃。 溫度波動度：≤±0.5℃，溫度均勻度：≤±2℃，濕度偏差： +2/-3％（75％R.H以上），±5％（75％R.H以下）

二、持續時間

在試驗樣品溫度達到穩定后，若尚需進行一定時間的低溫條件試驗時，其持續時間應優先從下列數值中選取：2，16，72，96h若試驗目的僅是檢查試驗樣品是否能在低溫情況下正常工作，則試驗的時間只限于使試驗樣品溫度達到穩定；但在任何情況

小型可程式恒溫恒濕試驗箱

（一）、箱體構造：

2.1.1. 內箱材料：采用SUS304#（1.2mm厚）8K鏡面不銹鋼板，具有耐酸、耐腐蝕、易清洗等優點。

2.1.2. 外箱材料：冷軋鋼板烤漆處理， 1.2mm厚。

2.1.3. 保溫及噪音：保溫層為聚氨脂整體發泡，體輕耐用，防腐，箱門采用磁膠條封閉，造型美觀，控溫精度高；內外箱連接部位采用非金屬耐高、低溫材料，有效降低溫度傳導；加濕方式采用隔離式加濕；配備密閉式制冷機組，運行平穩，噪音小，不銹鋼鰭片式加熱管加熱空氣方式，防銹防腐。

2.1.4. 樣品架：采用SUS304#不銹鋼沖孔折彎成網狀，方便美觀，間距可調節；標準配置兩塊，均勻分布樣品承重≦25kg。

2.1.5. 測試孔： 開Φ50mm的測試孔，并附上相應保溫隔熱配件及專用的密封軟塞。

一、“恒溫恒濕箱溫度偏差指標"起因：

試驗設備的校準，有些技術指標，各個版本的國家標準并不統一，這就造成了一些麻煩。比如溫度偏差這個指標，JJF1101-2003《環境試驗設備溫度、濕度校準規范》和GB/T 5170.2-2008《電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備》，這兩個標準里面的規定就是天差地別。下面說說溫度偏差，濕度偏差也是同樣的情況，就不多說了：

二、“恒溫恒濕箱溫度偏差指標"定義：

1、JJF1101-2003《環境試驗設備溫度、濕度校準規范》：

環境試驗設備在穩定狀態下，顯示溫度平均值與工作空間中心點實測溫度平均值的差值。（注：這里的顯示溫度平均值指設備控溫儀表的顯示溫度平均值）

2、GB/T 5170.2-2008《電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備》：

試驗箱（室）穩定狀態下，工作空間各測量點在規定時間內實測zui高溫度和zui低溫度與標稱溫度的上下偏差。

三、“恒溫恒濕箱溫度偏差指標"區別要點：

1、JJF1101-2003《環境試驗設備溫度、濕度校準規范》：基準點是工作空間中心點實測溫度平均值，考核對象是設備控溫儀表顯示溫度平均值，考核其與基準點的偏離程度。顯然，這跟溫度均勻度，沒有半點關系。

這和GB/T 5170.2-2008里面的溫度指示誤差指標類似，但基準點有區別，GB/T 5170.2-2008里面規定的基準點是設備工作空間全部測量點的溫度測量平均值。

2、GB/T 5170.2-2008《電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備》：基準點是標稱溫度（也就是你要做的試驗溫度，一般情況下等效于設定值），考核對象是工作空間各個測量點（比如小設備就是9個測試點），考核其與基準點的偏離程度。從中可以看出，這已經包含了溫度均勻度，如果均勻度不好，那溫度偏差肯定達不到。

綜合來看，執行JJF1101-2003的話，溫度偏差指標很容易實現，因為它只考核設備控溫儀表顯示溫度平均值；相比較而言，執行GB/T 5170.2-2008，溫度偏差指標的實現就要困難一些，因為它要考核工作空間的各個測量點。

產品在試驗室中測試的目的是準確的測出在各種環境中的反應效果，然后制造商再根據測試數據對產品進行糾正。因此，重要的是測試環境試驗室模擬出一個盡可能與產品實際應用的自然環境。

　　由于溫度與相對濕度密切相關，所以將溫度和濕度的影響結合起來的恒溫恒濕試驗箱是常見的。溫度室也可以用作對溫度變化敏感的材料的儲存空間，特別是在醫療和制藥行業。

　　需要溫度測試的產品范圍很廣;因此，溫度室有多種尺寸，包括緊湊的臺式室和根據制造商需要設計的更大的步入式室。許多試驗室都是根據被測產品的尺寸和形狀以及預期用途進行定制設計的。試驗結果的有效性對以后的制造變更和改進至關重要，因此，應仔細考慮試驗室的結構。

　　對溫度和精度的控制是影響進行試驗所產生結果的重要參考因素。在恒溫恒濕試驗箱中數據獲得的方式是由設備內的電子傳感器傳輸的，以便獲得精準的產品試驗參數。